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昆山友碩新材料有限公司
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ツァイスX線顕微鏡VersaXRM 730
蔡司X線顕微鏡VersaXRM 730の優れた断層スキャンは、常にユーザー一人一人、各種サンプルの多様なニーズを満たして蔡司VersaXRM 730の無限の潜在能力を探索し、尽きる
製品の詳細

商品の詳細

  ツァイスX線顕微鏡VersaXRM 730

優れた断層スキャンで、¹時刻はユーザー一人一人、各種サンプルの多様な需要を満たして蔡司VersaXRM 730の無限の潜在能力を探索し、その特色の40×-Prime対物レンズとしばしば受賞したZEN navxを享受する。このシステムは優れた画像解像度性能により、サブミクロンイメージングを再定義し、あなたの研究に新しい画期的な機能をもたらしました。ZEN navxはインテリジェントシステムの洞察力を利用してワークフローを簡略化し、簡単かつ効率的に結果を得ることを確保する。人工知能に基づく再構成は優れた画像品質に加持を提供し、DeepRecon Proは有効にフラックスを向上させ、FASTモードは1分以内に断層スキャンを実現することができる。蔡司VersaXRM 730を用いて、サンプル探索の新しい時代を開く。

蔡司X射线显微镜VERSAXRM730

  優れた解像度パフォーマンスで研究を革新

ツァイス40×-Prime対物レンズ

蔡司X射线显微镜VERSAXRM730

蔡司VersaXRM 730は特色のある40×-Prime対物レンズを搭載し、30 kVから160 kVの完全なソース電圧範囲内で450-500 nmの優れた画像解像度性能を実現するのに役立ちます。この特色は研究者のために新しいアプリケーション機能をロック解除し、サブミクロンイメージング解像度の業界標準的な発展を推進した。また、X線光子の増加に伴い、解像度に影響を与えずに様々なサンプルの結果をより迅速に取得することができる。蔡司VersaXRMは大動作距離高解像度(RaaD™)の機能で知られており、常に長スケールの範囲内で複数のサンプルタイプとサイズを高解像度イメージングすることができる。VersaXRM 730の特徴である40×Prime対物レンズとより高いエネルギーにより、これまでのサブミクロン画像を超える体験ができます。

  人工知能に基づく良質な画像

高度なリファクタリングツールボックスの蔡司DeepRecon Pro蔡司DeepRecon ProはXRMリファクタリングの強力なツールとなっているため、VersaXRM 730にはART高性能ワークステーションとDeepRecon Pro(ライセンス期間2年)が含まれています。

蔡司X射线显微镜VERSAXRM730

DeepRecon Proは人工知能に基づく革新的な技術であり、さまざまな応用に優れた効率と画像品質の優位性をもたらすことができる。DeepRecon Proは単一サンプルにも、半反復と反復のワークフローにも適用されます。ユーザーは、使いやすいインタフェースを使用して、新しい機械学習ネットワークモデルを現場で独立して訓練することができます。DeepRecon Proのワンタッチワークフローにより、初心者ユーザーも操作に慣れ、機械学習技術を熟知した専門家が横から支援する必要がなくなります。

  結晶構造情報の開示

  回折ライニングトモグラフィー(DCT)用LabDCT Pro

回折ライニングトモグラフィー(DCT)に使用されるLabDCT Proは蔡司VersaXRM 730にのみ提供され、結晶粒の配向とミクロ構造の非破壊三次元イメージングを実現することができる。三次元結晶粒配向の直接可視化は、金属合金、地質材料、セラミックス、医薬品などの多結晶材料特性化の新たな次元を切り開く。

蔡司X射线显微镜

LabDCT Proは、立方対称結晶構造から単斜晶系材料などの低対称系までのサンプルをサポートしている。

専用の4 X DCT対物レンズを用いて高分解能結晶情報を収集した。より大きなサンプルについては、平板検出器(FPX)を用いて大面積高効率面分布イメージングを行った。

より大きな代表的体積と様々な異なる試料幾何形状に対して全面的な三次元微細構造解析を行った。

4次元イメージング実験を用いて微細構造の進化を研究する。

三次元結晶情報と三次元微細構造特性を結合する。

構造-属性関係を理解するために、さまざまなパターンを組み合わせます。

  ライニングの点でさらに

二重走査ライニング可視化システム(DSCoVer)はVersaXRM 730に特有であり、2種類の異なるX線エネルギーの下で撮影された断層画像情報を結合することにより、単一のエネルギー吸収画像に取り込まれた詳細を拡張した。DSCoVer(二重走査ライニング可視化システム)は、X線と材料中の有効原子番号と密度との相互作用を活用して、岩石内の鉱物の差異、シリコンとアルミニウムなどの材料の差異を識別することができるなど、優れた識別能力を提供します。

蔡司X射线显微镜VERSAXRM730

  新しい自由度の実現

主力製品のVersaXRM 730は、追加の特徴とイメージング機能を提供します。

高アスペクト比断層スキャンイメージング(HART)などの先進的な収集技術を用いて、大体積、扁平または不規則なサンプルのスキャン速度と精度を向上させる。

蔡司X射线显微镜VERSAXRM730

ワイドフィールドモード(WFM)を用いて大型試料を柔軟にイメージングし、横方向に投影画像をつなぎ合わせて、より広い横方向観察視野を形成し、所与の観察視野により高いボクセル密度を提供したり、大型試料に対して広い横方向観察視野とより大きな三次元体積を提供したりすることができる。

自動フィルタ変換器(AFC)は、手動で介入することなくシームレスなフィルタ変換を実現し、各フォーミュラに対して選択をプログラムし、記録することができます。

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