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透過反射偏光顕微鏡XPV-203
透過反射偏光顕微鏡XPV-203一、用途:XPV-203 E/XPV-203 Z透過反射偏光顕微鏡及び融点測定システムは地質、鉱物、冶金、石油化学工業、化学繊維、半導体工業及び薬品検査などの部門と関連大学高分子などの専門で最もよく使われる専門実験機器である
製品の詳細
透過反射偏光顕微鏡XPV-203 |
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3.拡大倍率:40 X-630 Xシステム拡大倍率:40 X-2600 X 4.集光レンズの開口数:NA 1.2/0.22ロッキング消色差集光レンズ、中心調整可能。 5.偏光子起こし:振動方向360°調整可能、ロック装置付き、移動可能光路 6.偏光子の検査:光路を取り外すことができ、回転範囲90°にブルサイトミラーを内蔵し、中心、焦点距離を調整することができる 7.補償器:λシート(φ18 mm、一級赤、光路差551 nm)λ/4シート(φ18 mm、光路差147.3 nm) 石英くさび(12 x 28 mm、I-IV級) 8.焦点調整システム:帯域リミットと調節緩衝装置の同軸粗微調整、格値0.002 mm 9.電気光源:6 V/20 Wハロゲンランプ(輝度調整可能) |
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四、反射照明、同軸照明器(別名垂直照明器) 同軸照明器は別名垂直照明器とも呼ばれ、顕微鏡垂直照明システムであり、システム係数は1倍であり、各型番の普通(160 mm機械筒長、斜筒式)顕微鏡に適合することができる。反射光照明システムの下で不透明な物体の表面微細構造を観察することができる。 垂直照明装置の配置と顕微鏡上で一般的な金相分析、微粒子分析試験を行うことができるだけでなく、非金属不透明物体を分析、観察することができ、偏光システムを備え、偏光観察を行うことができる。 |
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五、システム構成: | ||||||||||||||||||||||||||
透過反射偏光顕微鏡(XPV-203 E):1、偏光顕微鏡2、同軸照明器3.撮像器(CCD)4.A/D(画像収集)5、コンピュータ 透過反射偏光顕微鏡(XPV-203 Z):1、偏光顕微鏡2、同軸照明器4、デジタルカメラシステム |
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六、購入品: | ||||||||||||||||||||||||||
1、高画素撮像システム2.偏光顕微鏡分析ソフトウェア | ||||||||||||||||||||||||||
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アフターサービス | ||||||||||||||||||||||||||
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