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偏光融点測定器XPN-203
偏光融点測定器XPN-203一、用途：XPN-203シリーズ偏光融点測定器は地質、鉱物、冶金、石油化学工業、化学繊維、半導体工業及び薬品検査などの部門と関連大学の高分子などの専門で最もよく使われる専門実験機器である
製品の詳細
| 偏光融点測定器XPN-203 |
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2.対物レンズ
3.拡大倍率：40 X-630 Xシステム拡大倍率：40 X-2600 X。 4.集光レンズの開口数：NA 1.2/0.22ロッキング消色差集光レンズ、中心調整可能 5.偏光子起こし：振動方向360°調整可能、ロック装置付き、移動可能光路 6.偏光子の検査：光路を取り外すことができ、回転範囲90°にブルサイトミラーを内蔵し、中心、焦点距離を調整することができる 7.補償器：λシート（φ18 mm、一級赤、光路差551 nm）λ／4シート（φ18 mm、光路差147.3 nm） 石英くさび（12 x 28 mm、I-IV級） 8.焦点調整システム：帯域リミットと調節緩衝装置の同軸粗微調整、格値0.002 mm 9.電気光源：6 V/20 Wハロゲンランプ（輝度調整可能） |
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| 四、ホットテーブル： | ||||||||||||||||||||||||||
| 1.顕微精密温度制御器 20 X対物レンズ下での動作温度は最高300℃に達することができ、温度運転プログラムは全自動制御される。温度プログラム段はユーザーが自ら設定し、30段の温度プログラム、循環操作を行い、設定温度、炉心温度、サンプルの実際の温度を正確に反映することができる。各段ごとに開始温度を設定し、この段内で時間を維持し、昇温速度を調整し、精度±0.3℃、記憶点示度を設定することができる。 2.顕微加熱プラットフォーム ステージに従って移動でき、作業領域の加熱面積が大きく、透光領域が調整でき、作業領域の温度勾配が±0.1未満である 開始温度室温 作業領域の加熱使用面積は少なくとも1 X 1 cm 作業領域温度勾配が±0.1を超えないことoC 透光領域2 mm以上、調整可能 表示温度と実温度の誤差が±0.2を超えないこと ステージはステージに合わせて移動できます 融点測定温度が100度を超えると、25 Xの対物レンズの動作距離が近すぎて、レンズを損傷しやすいので、長動作距離の20 X、40 Xの対物レンズを選んでください |
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| 五、システム構成： | ||||||||||||||||||||||||||
| コンピュータ型偏光ホットテーブル（XPN-203 E）：1、偏光顕微鏡2、ホットテーブル3.撮像器（CCD）4.A/D（画像収集）5、コンピュータ デジタル型偏光ホットテーブル（XPN-203 Z）：1、偏光顕微鏡2、ホットテーブル3、デジタルカメラシステム |
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| 六、計器の選択品： | ||||||||||||||||||||||||||
| 1、高画素撮像システム2.偏光顕微鏡分析ソフトウェア | ||||||||||||||||||||||||||
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| アフターサービス | ||||||||||||||||||||||||||
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