一、概要：

LJD-C型誘電率及び誘電損失試験器次世代の汎用、多用途、多レンジのインピーダンス試験機器として、試験周波数の上限は現在国内で高い160MHz.LJD-C誘電率測定器複数の新しいテクノロジーが導入されています。

デュアルスキャン技術-周波数と同調容量の二重走査、自動同調探索機能をテストする。

二重試験要素入力-テスト周波数と同調容量値はすべて数字ボタンで入力することができる。

デュアルディジタル化同調-デジタル化周波数同調、デジタル化容量同調。

じどうかそくていぎじゅつ-テストピースの実装Q値、共振点周波数、静電容量の自動測定。

フルパラメータ液晶表示–デジタル表示主調容量、インダクタンス、Q値、信号源周波数、共振指針。

DDSデジタル直接合成の信号源-ソースの高い忠実性、周波数の正確さ、振幅の高い安定性を確保する。

コンピュータ自動補正技術と試験回路Zの最適化：試験回路の残留インダクタンスを低下させ、根絶するQ異なる周波数で数値を読むときに修正するための困惑。

LJD-C誘電率及び誘電損失試験器の新設計は、高周波電子設計に従事するエンジニア、科学研究者、大学実験室、電子製造業により便利な検査ツールを提供し、測定値はよりJ正確で、測定効率はより高い。使用者は計器が与えた任意の周波数、任意の点同調容量値の下でデバイスの品質を検出することができ、レンジと換算単位に注目する必要はない。

二、主な技術特性：

Q値測定範囲: 2～1023,レンジシフト：30100﹑300﹑1000、自動シフトまたは手動シフト

固有誤差：≤5 %±フルネス値の2 ％（200kHz～10MHz）,≤6%±フルネス値の2％（10MHz～160MHz）

動作誤差：≤7%±フルネス値の2％ （200kHz～10MHz）,≤8%±フルネス値の2％（10MHz～160MHz）

インダクタンス測定範囲：4.5 nH～140mH

容量直接測定範囲：1～200pF

主容量調整範囲：18～220pF

主容量調整精度：100 pF以下±1pF;100pF以上±1 ％

信号源周波数カバー範囲：100 kHz～160MHz

周波数セグメント（仮想）：100～999.999kHz, 1～9.99999MHz,10～99.9999MHz,100～160MHz

周波数指示誤差：3×10 -5±1 個の字

三、クランプ作動特性

1.平板コンデンサ：

極片寸法：Φ50mm/Φ38mmオプション

極片ピッチ調整可能範囲：≧15mm

2. 治具プラグ間隔：25mm±0.01mm

3. 治具損失正接値≦4×10－4 （1MHz）

4・マイクロロッドの解像度を測定する：0.001mm

四、構成：

ホスト1台

インダクタンス9本

治具一式

ランダムファイルセット